SEMICONDUCTOR BATTERY
SYSTEMS

半導体/電池製造システム

LED検査/分類用 テストハンドラ EH310

各種電子基板用

EH310 テストハンドラ

様々な電子基板の検査やレーザ印字など、最大5機能まで行えるマルチ対応のセミオートテストハンドラです。

特徴
  • 5つのステーションにより自由な検査、作業レイアウトが可能(点灯検査、積分球測定、レーザ印字、外観検査etc)
  • ワークを個片化することなく集合基板で検査することにより、様々なワークに対応可能
仕様
型式
EH310
対応ワークサイズ
50x50~Max200x200(mm)
作業ステーション数
5station
分類方式
マッピング出力
対応積分球サイズ
Max29inch
装置寸法
L2010xW1500xH1940
装置質量
2500kg
製品に関するお問い合わせ

澁谷工業株式会社

メカトロ事業部 精機本部 LED営業部
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TEL 076-262-1200 FAX 076-262-2210
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