半導体/電池製造システム
LED検査／分類用 テストハンドラ EH310各種電子基板用
EH310 テストハンドラ
様々な電子基板の検査やレーザ印字など、最大５機能まで行えるマルチ対応のセミオートテストハンドラです。
特徴
- 5つのステーションにより自由な検査、作業レイアウトが可能（点灯検査、積分球測定、レーザ印字、外観検査etc)
- ワークを個片化することなく集合基板で検査することにより、様々なワークに対応可能
仕様
- 型式
- EH310
- 対応ワークサイズ
- 50x50～Max200x200(mm)
- 作業ステーション数
- 5station
- 分類方式
- マッピング出力
- 対応積分球サイズ
- Max29インチ
- 装置寸法
- 2010(L)x1500(W)x1940(H)mm
- 装置質量
- 2500kg
- 製品に関するお問い合わせ
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澁谷工業株式会社
メカトロ統轄本部 精機本部
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