半導体/電池製造システム
自重落下ハンドラ高温測定、RF測定、外観検査、レーザマーク等も行える自重落下ハンドラです。
常温・高温用
特徴
- 高スループット・低ジャム率・省スペース
- 大量生産に適した大容量のローダ、アンローダ
- 大型テストヘッドドッキング可能な構造
- 各部ユニット化による短時間品種交換
- 各種ソケットに対応可能
仕様
- 型式
- TH281
- 対象
- SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
- 処理能力
- 0.9秒/個（テスト時間0.3秒含む）
- 供給
- アルミマガジン or シングルチューブ
- 測定
- 高温または常温：２ステーション
- レーザマーク
- ―
- 外観検査
- ―
- 収納
- アルミマガジン：４レーン
RF測定対応
特徴
- 大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ
- 最大４ステーションの測定部で各種テストボックスに接続可能
- 品種交換が容易
- リード検査機構搭載可能（オプション）
仕様
- 型式
- TH285
- 対象
- SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
- 処理能力
- 0.9秒/個（テスト時間0.3秒含む）
- 供給
- アルミマガジン or シングルチューブ
- 測定
- 最大４ステーション（高温測定可）
- レーザマーク
- ―
- 外観検査
- リード検査（オプション）
- 収納
- アルミマガジン：４レーン
高温用
特徴
- 高速・小型
- 大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ
- ３ヵ所の測定部で各種テストボックスに接続可能
- リード検査機構搭載可能（オプション）
仕様
- 型式
- TH233C
- 対象
- TO220、TO126、TO3P、SIP等
- 処理能力
- 2.0秒/個（テスト時間1.0秒含む）
- 供給
- アルミマガジン or シングルチューブ
- 測定
- 高温３ステーション
- レーザマーク
- ―
- 外観検査
- ―
- 収納
- アルミマガジン：６レーン
簡易型
特徴
- 常温測定、マーキング対応可能な簡易型
- チューブの手動供給・収納
- ご希望のマーキング装置を搭載可能
- マーク確認用外観検査（オプション）
仕様
- 型式
- TM226
- 対象
- SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
- 処理能力
- 0.9秒/個
- 供給
- チューブ(１０本マニュアル供給）
- 測定
- 最大１ステーション
- レーザマーク
- 設置可
- 外観検査
- マーク検査（オプション）
- 収納
- チューブ：１４レーン
- 製品に関するお問い合わせ
-
澁谷工業株式会社
メカトロ統轄本部 精機本部
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