半導体/電池製造システム
タレット式多機能ハンドラパワー半導体パッケージの電気測定、外観検査、レーザマーク等の各種プロセスに対応した最適な装置を提案いたします。カスタム対応も行いますので、お気軽にお問い合わせください。
特徴
- ４００Aのケルビンコンタクトが可能
- 複数形態の供給・収納を搭載可能
- 各種測定・検査を搭載可能
- 高温測定の高速処理
リードフレーム供給、常温測定
仕様
- 型式
- TM288P
- デバイス
- SOP,SSOP,HSSOP等
- 処理能力
- 0.55秒/個
（テスト時間0.45秒含む） - 供給
- ・リードフレーム
・テープローダ - 測定
- ・４ステーション
・ケルビンコンタクト - レーザマーク
- パッケージ上面
- 外観検査
- ・リード側面・上面
・モールド上面、裏面 - 収納
- ・マガジン：１箇所
・バラＮＧ：４箇所
・テ ー プ：２レーン
チューブ供給、高温・常温測定
仕様
- 型式
- TH288LD
- デバイス
- SOP,SSOP,HSSOP等
- 処理能力
- 0.5秒/個
（テスト時間0.25秒含む） - 供給
- チューブ
- 測定
- ・高温２ステーション
・常温６ステーション
・ケルビンコンタクト - レーザマーク
- ―
- 外観検査
- ・リード側面・上面
・モールド上面
・裏面 - 収納
- ・チューブＮＧ：４レーン
・チューブ分類：１５レーン
・テ ー プ：２レーン
トレイ供給、常温測定
仕様
- 型式
- TM288P
- デバイス
- SOP,SSOP,HSSOP等
- 処理能力
- 0.5秒/個
（テスト時間0.38秒含む） - 供給
- トレイ、テープローダ
- 測定
- ・５ステーション
・ケルビンコンタクト - レーザマーク
- パッケージ上面
- 外観検査
- ・リード側面・上面
・モールド上面
・裏面 - 収納
- ・トレイ：３箇所
・テ ー プ：３レーン
- 製品に関するお問い合わせ
-
澁谷工業株式会社
メカトロ統轄本部 精機本部
〒920-0054 金沢市若宮2-232
TEL 076-262-2201 FAX 076-262-2210
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