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パワー半導体用ハンドラ
タレット式多機能ハンドラ

パワー半導体パッケージの電気測定、外観検査、レーザマーク等の各種プロセスに対応した最適な装置を提案いたします。カスタム対応も行いますので、お気軽にお問い合わせください。

特徴

  • 400Aのケルビンコンタクトが可能
  • 複数形態の供給・収納を搭載可能
  • 各種測定・検査を搭載可能
  • 高温測定の高速処理

リードフレーム供給、常温測定

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仕様

型式 TM288P
デバイス SOP,SSOP,HSSOP等
処理能力 0.55秒/個 (テスト時間0.45秒含む)
供給 ・リードフレーム ・テープローダ
測定 ・4ステーション ・ケルビンコンタクト
レーザマーク パッケージ上面
外観検査 ・リード側面・上面 ・モールド上面、裏面
収納 ・マガジン:1箇所 ・バラNG:4箇所 ・テ ー プ:2レーン

チューブ供給、高温・常温測定

チューブ供給、高温・常温測定” data-file-id=

仕様

型式 TH288LD
デバイス SOP,SSOP,HSSOP等
処理能力 0.5秒/個(テスト時間0.25秒含む)
供給 チューブ
測定 ・高温2ステーション ・常温6ステーション ・ケルビンコンタクト
レーザマーク
外観検査 ・リード側面 ・上面 ・モールド上面 ・裏面
収納 ・チューブNG:4レーン ・チューブ分類:15レーン ・テ ー プ:2レーン

トレイ供給、常温測定

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仕様

型式 TM288P
デバイス SOP,SSOP,HSSOP等
処理能力 0.5秒/個(テスト時間0.38秒含む)
供給 トレイ、テープローダ
測定 ・5ステーション ・ケルビンコンタクト
レーザマーク パッケージ上面
外観検査 ・リード側面 ・上面 ・モールド上面 ・裏面
収納 ・トレイ:3箇所 ・テ ー プ:3レーン
製品に関するお問い合わせ
澁谷工業株式会社
メカトロ統轄本部 精機本部
〒920-0054 金沢市若宮2-232 TEL 076-262-2201 FAX 076-262-2210