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パワー半導体用ハンドラ
自重落下ハンドラ

高温測定、RF測定、外観検査、レーザマーク等も行える自重落下ハンドラです。

常温・高温用

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特徴

  • 高スループット・低ジャム率・省スペース
  • 大量生産に適した大容量のローダ、アンローダ
  • 大型テストヘッドドッキング可能な構造
  • 各部ユニット化による短時間品種交換
  • 各種ソケットに対応可能

仕様

型式 TH281
対象 SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
処理能力 0.9秒/個(テスト時間0.3秒含む)
供給 アルミマガジン or シングルチューブ
測定 高温または常温:2ステーション
レーザマーク
外観検査
収納 アルミマガジン:4レーン

RF測定対応

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特徴

  • 大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ
  • 最大4ステーションの測定部で各種テストボックスに接続可能
  • 品種交換が容易
  • リード検査機構搭載可能(オプション)

仕様

型式 TH285
対象 SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
処理能力 0.9秒/個(テスト時間0.3秒含む)
供給 アルミマガジン or シングルチューブ
測定 最大4ステーション(高温測定可)
レーザマーク
外観検査 リード検査(オプション)
収納 アルミマガジン:4レーン

高温用

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特徴

  • 高速・小型
  • 大型テストボックスが接続できる大量生産タイプ
  • 3ヵ所の測定部で各種テストボックスに接続可能
  • リード検査機構搭載可能(オプション)

仕様

型式 TH233C
対象 TO220、TO126、TO3P、SIP等
処理能力 2.0秒/個(テスト時間1.0秒含む)
供給 アルミマガジン or シングルチューブ
測定 高温3ステーション
レーザマーク
外観検査
収納 アルミマガジン:6レーン

簡易型

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特徴

  • 常温測定、マーキング対応可能な簡易型
  • チューブの手動供給・収納
  • ご希望のマーキング装置を搭載可能
  • マーク確認用外観検査(オプション)

仕様

型式 TH226
対象 SOP、SSOP、TSSOP、DIP等
処理能力 0.9秒/個
供給 チューブ(10本マニュアル供給)
測定 最大1ステーション
レーザマーク 設置可
外観検査 マーク検査(オプション)
収納 チューブ:14レーン
製品に関するお問い合わせ
澁谷工業株式会社
メカトロ統轄本部 精機本部
〒920-0054 金沢市若宮2-232 TEL 076-262-2201 FAX 076-262-2210